| 儀器配置: | 全自動(dòng)臨界點(diǎn)干燥儀、高真空磁控離子濺射儀、電制冷能譜儀、樣品室內(nèi)側(cè)位二次電子探測(cè)器、鏡筒內(nèi)正光軸二次電子探測(cè)器、高性能背散射電子探測(cè) |
| 應(yīng)用范圍: |
可觀(guān)測(cè)多種生物及材料的微觀(guān)形貌,獲得樣品表面超微形貌結(jié)構(gòu)信息,對(duì)表面元素成分定性半定量分析
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| 技術(shù)指標(biāo): | 放大倍數(shù)15-1000000x,圖像分辨率(二次電子)不低于0.9nm @15kV、1.3nm @1kV,圖像分辨率(掃描透射電子)不低于1.0nm@30KV |
| 聯(lián)系方式: | 蘇振成,024-83970380,zhenchengsu@iae.ac.cn |
| 儀器配置: | 離子濺射儀、背散射電子探測(cè)器、硅漂移探測(cè)器(SDD) |
| 應(yīng)用范圍: |
活體樣本快速微觀(guān)檢測(cè),觀(guān)測(cè)樣品表面微觀(guān)形貌,對(duì)其表面元素成分進(jìn)行定性半定量分析
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| 技術(shù)指標(biāo): | 最大放大倍數(shù)150000x,分辨率優(yōu)于8nm@10kV,加速電壓5kV-15kV連續(xù)可調(diào),探測(cè)元素范圍B(5)-Am(95)號(hào)元素 |
| 聯(lián)系方式: | 蘇振成,024-83970380,zhenchengsu@iae.ac.cn |
| 儀器配置: | 倒置顯微鏡、徠卡照相機(jī)、熒光發(fā)射器 |
| 應(yīng)用范圍: |
生物學(xué)、醫(yī)學(xué)領(lǐng)域中組織培養(yǎng)物和流質(zhì)沉淀物等顯微觀(guān)察,可觀(guān)察不經(jīng)染色的透明活體
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| 技術(shù)指標(biāo): | DP71 數(shù)字CCD 成像,可連接35mm 膠片自動(dòng)顯微照像裝置,具備熒光、DIC 相差、明場(chǎng)觀(guān)察及照像記錄、數(shù)字CCD 圖像采集等功能 |
| 聯(lián)系方式: | 蘇振成,024-83970380,zhenchengsu@iae.ac.cn |
| 儀器配置: | 格里諾光學(xué)系統(tǒng)、熒光照明系統(tǒng)、專(zhuān)業(yè)熒光濾塊 |
| 應(yīng)用范圍: |
動(dòng)物學(xué)、植物學(xué)、組織學(xué)、考古學(xué)等研究和解剖工具
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| 技術(shù)指標(biāo): | 變倍比16.5:1、放大倍數(shù)7.3-1260x,最高分辨率906線(xiàn)對(duì)/mm、可視結(jié)構(gòu)寬度551nm、工作距離61.5mm,同品牌分析軟件具有自動(dòng)測(cè)量、蒙太奇、3D瀏覽、錄像和拼圖功能 |
| 聯(lián)系方式: | 蘇振成,024-83970380,zhenchengsu@iae.ac.cn |
| 儀器配置: | 高真空、低真空、環(huán)掃三種模式,同時(shí)配有能譜儀 |
| 應(yīng)用范圍: |
動(dòng)植物組織細(xì)胞超微結(jié)構(gòu)分析,微生物和病毒粒子形態(tài)結(jié)構(gòu)分析,生物、地質(zhì)(古生物)土壤、纖維、高分子膜、微顆粒等非生物樣品表面形態(tài)分析
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| 技術(shù)指標(biāo): | 具有二次電子、背散射電子微觀(guān)分析模式,加速電壓20kV-40kV連續(xù)可調(diào),放大倍數(shù)14x-20000x |
| 聯(lián)系方式: | 周強(qiáng),15004080113,zhouqiang@iae.ac.cn |
| 儀器配置: | 28個(gè)高效濾光片、-90℃制冷CCD相機(jī)、大尺寸高量子效率CCD芯片及大光圈鏡頭 |
| 應(yīng)用范圍: |
具備二維及鼠類(lèi)三維斷層水平的生物發(fā)光、熒光成像功能及光譜分離功能,可無(wú)創(chuàng)傷在活體動(dòng)物水平對(duì)疾病發(fā)生發(fā)展及治療、細(xì)胞動(dòng)態(tài)變化、基因?qū)崟r(shí)表達(dá)進(jìn)行長(zhǎng)期觀(guān)測(cè)
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| 技術(shù)指標(biāo): | 分辨率達(dá)20μm,覆蓋430-850 nm全波段,成像范圍為最小視野5×5cm、最大視野12.5×12.5cm |
| 聯(lián)系方式: | 楊立瓊,024-88087736,yangliqiong7@163.com |
| 儀器配置: | 405 nm半導(dǎo)體激光白色LED光源 |
| 應(yīng)用范圍: |
表面物理形貌測(cè)量,微納米尺度三維形貌分析,如3D表面形貌、2D縱深形貌、輪廓(縱深、寬度、曲率、角度)、表面粗糙度等
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| 技術(shù)指標(biāo): | 光學(xué)和數(shù)碼變焦1-8x,移動(dòng)分辨率10 nm、顯示分辨率1 nm,物鏡100x、50x、20x、10x、5x |
| 聯(lián)系方式: | 楊立瓊,024-88087736,yangliqiong7@163.com |
| 儀器配置: | 透射、衰減全反射、近紅外積分球 |
| 應(yīng)用范圍: |
官能團(tuán)表征、結(jié)構(gòu)分析,并可近紅外測(cè)定 |
| 技術(shù)指標(biāo): | 光譜范圍12,000-350 cm-1,光譜分辨率 0.069 cm-1 |
| 聯(lián)系方式: |
王世成,024-88087833,wangsc@iae.ac.cn; 呂曉歡,13664171576,lyu@iae.ac.cn |
